WEKO3
アイテム
セラミックスの特性発現原理解明のための電子顕微鏡法および集束イオンビーム加工法による微構造解析
https://doi.org/10.18880/0002000991
https://doi.org/10.18880/00020009916d0bf0af-a7c6-403c-8544-319dcce2c0a6
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| アイテムタイプ | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2024-05-23 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | セラミックスの特性発現原理解明のための電子顕微鏡法および集束イオンビーム加工法による微構造解析 | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Microstructural analysis by electron microscopy and focused ion beam techniques to elucidate the principles of ceramics properties | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||||
| ID登録 | ||||||||||
| ID登録 | 10.18880/0002000991 | |||||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||||
| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||
| 著者 |
矢矧, 束穂
× 矢矧, 束穂
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| 書誌情報 |
発行日 2024-03-25 |
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| 著者版フラグ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 国立国会図書館分類 | ||||||||||
| 主題Scheme | NDLC | |||||||||
| 主題 | UT51 | |||||||||
| 学位名 | ||||||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 学位授与機関 | ||||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||||
| 学位授与機関識別子 | 12701 | |||||||||
| 学位授与機関名 | 横浜国立大学 | |||||||||
| 学位授与年度 | ||||||||||
| 値 | 2023年度 | |||||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||||
| 学位授与年月日 | 2024-03-25 | |||||||||
| 学位授与番号 | ||||||||||
| 学位授与番号 | 甲第2460号 | |||||||||