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  1. 05 工学研究院・理工学府・理工学部
  2. 5-1 学術雑誌論文

Material-Mechanistic Interplay in SiCN Wafer Bonding for 3D Integration

http://hdl.handle.net/10131/0002001975
http://hdl.handle.net/10131/0002001975
ebcdd187-2dbd-4788-bb34-44130276c9a9
名前 / ファイル ライセンス アクション
kitagawa-et-al-2025-material-mechanistic-interplay-in-sicn-wafer-bonding-for-3d-integration.pdf kitagawa-et-al-2025-material-mechanistic-interplay-in-sicn-wafer-bonding-for-3d-integration.pdf (7.5 MB)
license.icon
Item type デフォルトアイテムタイプ(フル)(1)
公開日 2025-07-08
タイトル
タイトル Material-Mechanistic Interplay in SiCN Wafer Bonding for 3D Integration
言語 en
作成者 Kitagawa, Hayato

× Kitagawa, Hayato

ORCID 0009-0002-6458-3930

en Kitagawa, Hayato
Yokohama National University

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Sato, Ryosuke

× Sato, Ryosuke

en Sato, Ryosuke
Yokohama Naitonal University

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Ebiko, Sodai

× Ebiko, Sodai

en Ebiko, Sodai
Yokohama Naitonal University

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Nagata, Atsushi

× Nagata, Atsushi

en Nagata, Atsushi
Tokyo Electron Kyushu Limited

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Ahn, Chiwoo

× Ahn, Chiwoo

en Ahn, Chiwoo
SK hynix Incorporation

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Kim, Yeounsoo

× Kim, Yeounsoo

en Kim, Yeounsoo
SK hynix Incorporation

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Kang, Jiho

× Kang, Jiho

en Kang, Jiho
SK hynix Incorporation

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Uedono, Akira

× Uedono, Akira

ORCID 0000-0001-6224-4869

en Uedono, Akira
University of Tsukuba

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Inoue, Fumihiro

× Inoue, Fumihiro

ORCID 0000-0003-2292-846X

en Inoue, Fumihiro
Yokohama National University

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アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
権利情報
言語 en
権利情報Resource https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
権利情報 Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
内容記述
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Wafer bonding is a step in processing of state-of-theartintegration architectures in CMOS devices. Sufficiently high bonding strength and low distortion with high alignment accuracy are essential to realize these device structures. A challenge in realizing advanced architectures is reducing the thermal history associated with the bonding process. Although much research has been conducted on wafer bonding methods compatible with the latest semiconductor manufacturing processes, discussions on the interface mechanisms during low temperature annealing have been insufficient. In this study, plasma-activated bonding was carried out using SiCN, which is a major bonding dielectric material. The bonding strength and water remaining at the interface were subsequently evaluated. We found that a SiCN film achieved greater bonding strength after post bond annealing at a low temperature of 250 °C and completely consumed the interfacial water. Analyses of the surface and interface revealed the carbon bonding leads to great bonding interface by low-temperature annealing.
言語 en
出版者
出版者 American Chemical Society
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
関連情報
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1021/acsomega.5c03628
助成情報
識別子タイプ e-Rad_funder
助成機関識別子タイプURI https://www.e-rad.go.jp/datasets/files/haibunkikan.csv
助成機関識別子 1025
助成機関名 Japan Society for the Promotion of Science
言語 en
助成機関名 独立行政法人日本学術振興会
言語 ja
言語 ja
プログラム情報 科学研究費助成事業
研究課題番号URI https://kaken.nii.ac.jp/ja/grant/KAKENHI-PROJECT-23K26388/
研究課題番号 JP23K26388
研究課題番号タイプ JGN
研究課題名 原子層堆積ハイブリッド表面の局所ダイナミクスの解明と3Dヘテロデバイスへの応用
言語 ja
助成情報
識別子タイプ e-Rad_funder
助成機関識別子タイプURI https://www.e-rad.go.jp/datasets/files/haibunkikan.csv
助成機関識別子 1020
助成機関名 Japan Science and Technology Agency
言語 en
助成機関名 国立研究開発法人科学技術振興機構
言語 ja
言語 en
プログラム情報 Strategic Basic Research Programs PRESTO
言語 ja
プログラム情報 戦略的創造研究推進事業 さきがけ
研究課題番号URI https://doi.org/10.52926/JPMJPR22B3
研究課題番号 JPMJPR22B3
研究課題番号タイプ JGN
研究課題名 3Dチップレット型ヘテロ量子デバイスの創生
言語 ja
収録物識別子
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 2470-1343
収録物名
収録物名 ACS Omega
言語 en
巻
巻 10
号
号 25
ページ数
ページ数 10
開始ページ
開始ページ 27575
終了ページ
終了ページ 27584
日付
日付 2025-06-23
日付タイプ Issued
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Ver.1 2025-07-08 07:34:16.951043
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